天眼查顯示，合肥康芯威存儲技術(shù)有限公司“一種存儲芯片的檢測系統(tǒng)及檢測方法”專利公布，申請公布日為2024年3月1日，申請公布號為CN117637012A。

本發(fā)明提供一種存儲芯片的檢測系統(tǒng)及檢測方法，檢測系統(tǒng)包括平臺測試模塊，用以測試待測芯片的工作狀態(tài)，當所述待測芯片處于正常工作狀態(tài)時，所述平臺測試模塊將所述待測芯片的正常數(shù)據(jù)傳遞給主機，以生成所述待測芯片正常工作狀態(tài)下的測試結(jié)果；以及分析子板模塊，與所述平臺測試模塊通信連接；其中，當所述待測芯片處于異常工作狀態(tài)時，所述分析子板模塊向所述平臺測試模塊發(fā)送控制指令，使得所述待測芯片處于調(diào)試模式，所述分析子板模塊將所述待測芯片的異常數(shù)據(jù)傳遞給主機，以生成所述待測芯片異常工作狀態(tài)下的測試結(jié)果。本發(fā)明可以在存儲芯片不解焊的情況下，獲取其無法實現(xiàn)錯誤檢查和糾正的原因。