天眼查顯示，無錫盛景微電子股份有限公司“基于污染源擴散理論的低可靠性芯片識別方法及裝置”專利公布，申請公布日為2024年10月11日，申請公布號為CN118761427A。

本發(fā)明提供了基于污染源擴散理論的低可靠性芯片識別方法及裝置。其中，包括：獲取待識別芯片以及污染芯片；根據待識別芯片與污染芯片的位置信息以及預設污染范圍，從模型數據庫中查找污染芯片對應的權重系數和污染系數；模型數據庫包括：第一數據庫和第二數據庫，第一數據庫用于存儲相關位置信息，第二數據庫用于存儲相關權重系數和相關污染系數；利用權重系數和污染系數計算污染程度值；將污染程度值代入轉換函數，獲取待識別芯片的早期失效概率；基于預設篩選閾值和早期失效概率對待識別芯片進行可靠性判斷，獲取識別結果；第二數據庫和轉換函數均基于優(yōu)化遺傳算法優(yōu)化訓練得到。提高了低可靠性芯片識別的穩(wěn)定性和準確性，降低了良品損失。