天眼查信息顯示，深圳市時創(chuàng)意電子股份有限公司近日取得一項名為“一種測試電路板和測試裝置”的專利，授權(quán)公告號CN220543060U，授權(quán)公告日為2024年2月27日，申請日為2023年6月7日。 

本申請公開了一種測試電路板和測試裝置，測試電路板用于測試存儲芯片，所述測試電路板包括第一區(qū)域和第二區(qū)域，所述第二區(qū)域圍繞所述第一區(qū)域設(shè)置，所述第二區(qū)域內(nèi)設(shè)有外圍測試電路，所述第一區(qū)域設(shè)置有至少兩種不同類型的測試座固定結(jié)構(gòu)，所述測試座固定結(jié)構(gòu)與測試座子可拆卸固定，所述測試座子上放置被測試的存儲芯片；其中，不同類型的測試座固定結(jié)構(gòu)與不同類型的測試座子可拆卸固定，所述存儲芯片通過測試座子與所述外圍測試電路實現(xiàn)電連接。本申請在一個測試電路板上設(shè)置多個測試座固定結(jié)構(gòu)，可以與不同類型的測試座子進行可拆卸固定，兼容不同的廠家的測試座子完成存儲芯片的測試，不僅提高測試效率，還可以降低測試設(shè)備的成本。