基于V93000的星閃SLE測試解決方案

作者：愛集微 08-27 09:23

來源：愛德萬測試 #愛德萬測試#

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星閃作為新一代短距無線通信技術(shù)，正在多個行業(yè)快速發(fā)展，聯(lián)盟成員已突破千家。本文將聚焦其低功耗接入模式（SparkLink Low Energy，SLE），介紹其物理層架構(gòu)、幀結(jié)構(gòu)及測試方法，并展示V93000針對星閃SLE芯片的量產(chǎn)測試方案。

什么是星閃？

星閃（英語：SparkLink，也稱NearLink）是一種無線電短距離通信技術(shù)，由國際星閃聯(lián)盟負責制定、維護和推廣。星閃聯(lián)盟成立于2020年9月22日，截至2025年2月，會員單位已超過1100家，覆蓋家電、汽車、芯片、模塊、應(yīng)用、ICT企業(yè)、科研機構(gòu)及測試儀器廠商等多個領(lǐng)域，其中芯片廠商超過40家。愛德萬測試也已于 2024年加入星閃聯(lián)盟測試認證組。

國際星閃聯(lián)盟愿景和運作框架（Source: https://sparklink.org.cn）

星閃的主要應(yīng)用領(lǐng)域

智能制造：如工廠機器人與傳感器的高效協(xié)同與精準控制
智能汽車：如車鑰匙、車載攝像頭等，提升車輛的智能體驗
智能家居：如音響、電視等設(shè)備，實現(xiàn)便捷舒適的家庭互聯(lián)
智能設(shè)備：如可穿戴設(shè)備，支持個性化、實時的數(shù)據(jù)交互

通過星閃，這些設(shè)備可實現(xiàn)快速、穩(wěn)定、安全的“即連即用”連接，為各行業(yè)的智能化升級提供堅實的通信基礎(chǔ)。

星閃的兩種主要模式架構(gòu)：SLE 與 SLB

低功耗接入（SparkLink Low Energy，SLE）：低功耗、低延遲。專為低功耗設(shè)備設(shè)計，適用于耳機、鼠標、車鑰匙等輕量級應(yīng)用。其特點包括：

功耗低于2mA，延遲僅250微秒
支持可靠組播、安全配對、短時互通等功能
使用2.4GHz和5GHz ISM頻段，帶寬為1/2/4MHz
支持p/4-QPSK和p/8-8PSK調(diào)制，速率最高達12Mbps（約為藍牙的4倍）
最多支持256設(shè)備同時接入

基礎(chǔ)接入（SparkLink Basic，SLB）：高速、高容量、高精度。面向高數(shù)據(jù)量和高精度場景，如高清視頻傳輸、大文件共享和精準定位。其技術(shù)優(yōu)勢包括：

數(shù)據(jù)速率最高達1.2Gbps，延遲低至20微秒
支持5GHz頻段，帶寬范圍從20MHz到500MHz
支持多種調(diào)制方式與多載波通信
引入超短幀、多點同步、異步HARQ等先進技術(shù)
最多支持4096設(shè)備同時接入

星閃SLE與藍牙的技術(shù)對比

星閃SLE與藍牙的技術(shù)對比

星閃SLE 的典型測試項目

SLE測試包含了發(fā)射（TX）測試和接收（RX）測試項目。

TX 測試項目：

輸出功率范圍（Output Power Range）

調(diào)制精度（Modulation Accuracy）

GFSK 頻率偏差（GFSK Frequency Deviation）
PSK 誤差矢量幅度（PSK EVM）（π/2-BPSK、π/4-QPSK、π/8-8PSK）
頻率容限（Frequency Tolerance）
時鐘精度（Clock Precision）

非期望發(fā)射（Unwanted Transmission）

GFSK / PSK 頻段內(nèi)發(fā)射（Transmission in the GFSK/PSK Frequency Band）
頻段外發(fā)射雜散 (Out-of-Band Spurious Emission of the Transmitter)

RX 測試項目：

接收功率范圍（Receiver Power Range）

參考靈敏度（Reference Sensitivity）
最大輸入電平（Maximum Input Level）

接收機選擇性（Receiver Selectivity）

接收機雜散發(fā)射（Spurious Emission of the Receiver）

接收器RSSI 測量精度（RSSI Measurement Accuracy of the Receiver）

在ATE量產(chǎn)測試中，重點關(guān)注輸出功率、GFSK頻偏、PSK EVM、頻段內(nèi)發(fā)射及接收靈敏度等關(guān)鍵指標。與傳統(tǒng)IoT芯片相比，星閃SLE采用了全新的測試標準，尤其在調(diào)制精度（EVM）測試上，需要配合定制化調(diào)制解調(diào)庫才能滿足其測試要求。

面對這些全新的測試標準和要求，選擇一套既能覆蓋星閃SLE特性、又能兼顧效率與成本的量產(chǎn)測試平臺至關(guān)重要。V93000 EXA搭配Wave Scale RF板卡正是為應(yīng)對這些挑戰(zhàn)而打造的高集成度射頻測試方案。

星閃SLE測試挑戰(zhàn)及V93000測試方案

愛德萬測試在射頻測試領(lǐng)域深耕多年，在高頻與復(fù)雜射頻芯片量產(chǎn)測試方面保持行業(yè)領(lǐng)先。針對星閃SLE芯片的量產(chǎn)測試挑戰(zhàn)，V93000 EXA平臺提供了一站式解決方案，對應(yīng)以下關(guān)鍵需求：

挑戰(zhàn)1：高度集成的星閃SLE芯片→ V93000 EXA綜合平臺

星閃SLE芯片通常將數(shù)字、模擬和射頻模塊高度集成。V93000 EXA可在同一平臺上完成射頻、數(shù)字、模擬的全方位測試，實現(xiàn)測試資源的最大化利用，并有效降低整體成本。

挑戰(zhàn)2：多樣化測試需求+高效率/低成本→ WSRF系列板卡+高并行測試能力

V93000 EXA搭配WSRF系列射頻板卡，既滿足星閃SLE頻率和帶寬的覆蓋，又支持高并行測試以提升效率、降低單顆芯片測試成本：

WSRF8（Wave Scale RF8）：單板集成4個RF子系統(tǒng)，32個射頻端口，頻率范圍10 MHz–8 GHz，帶寬200 MHz。
WSRF20ex（Wave Scale RF20ex）：2024 年11月發(fā)布，單板集成8個RF子系統(tǒng)，64個射頻端口，頻率范圍50MHz–20GHz，帶寬高達2GHz。

無論選擇WSRF8還是WSRF20ex，都能覆蓋星閃SLE芯片的測試需求。即便僅啟用2個RF子系統(tǒng)（16個射頻端口），也能實現(xiàn)16 sites并行測試，大幅提升效率、縮短單顆芯片測試時間，從而顯著降低產(chǎn)線成本。